Ismael Ballesteros es técnico del laboratorio en el ICMM. FOTO: Ángela R. Bonachera/CSIC

El Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC), entidad dependiente del Ministerio de Ciencia, Innovación y Universidades (MICIU), acaba de instalar en el Campus de Cantoblanco de Madrid un nuevo microscopio electrónico de emisión de campo (FE-SEM) único en la zona. El aparato, ubicado en el Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM-CSIC), forma parte de los institutos de Cerámica y Vidrio (ICV-CSIC) y de Catálisis y Petroleoquímica (ICP-CSIC) y presta servicio abierto a la comunidad investigadora. 

El microscopio Apreo 2 ChemiSEM ha sido financiado por la Unión Europea – NextGenerationEU, a través del Mecanismo de Recuperación y Resiliencia en el Marco Nacional: Plan de Recuperación, Transformación y Resiliencia (PRTR) del Gobierno de España (Código del Proyecto Científico: MICRO24004).

Este permitirá ampliar las capacidades del CSIC en el ámbito de la microscopía electrónica. “Si bien en el campus hay otros microscopios electrónicos, este en concreto sobresale por resolver simultáneamente retos analíticos y de resolución que otros equipos de la zona tienen que hacer de forma separada”, explica Bernd Wicklein, investigador del CSIC en el Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid y científico responsable del servicio. 

De este modo, este microscopio destaca en el mapa de la Comunidad de Madrid por la combinación simultánea de cuatro factores clave: por un lado, permite el microanálisis cuantitativo de rayos X de forma integrada, lo que posibilita un mapeo elemental cuantitativo en tiempo real mientras se navega por la muestra, detectando elementos ligeros sin necesidad de configurar adquisiciones lentas adicionales.

Asimismo, el microscopio permite analizar muestras magnéticas con una resolución nanométrica (es decir, la millonésima parte de un milímetro) sin que ese magnetismo distorsione el sistema de lente, “este es un límite habitual en los microscopios de inmersión magnética tradicionales”, continúa Wicklein, que explica que la gran mayoría de microscopios de ultra-alta resolución utilizan lentes objetivas de inmersión magnética que imposibilitan o distorsionan la observación de materiales ferromagnéticos o fuertemente magnéticos.

El Apreo 2 integra, además, dos algoritmos de automatización para la alineación y el ajuste del haz, lo que facilita minimizar los tiempos y permite una explotación intensiva del sistema. 

El equipo de trabajo del FE-SEM, compuesto por personal de los tres centros del CSIC, agrega además una última ventaja de este aparato: incluye un brazo para la inserción de muestras en vacío sin que éstas tengan que ser expuestas a atmósferas dañinas. 

Con la instalación de este microscopio, el CSIC continúa reforzando sus capacidades en estas técnicas y su posición de liderazgo en el entorno. Los servicios de este FE-SEM forman parte de la Unidad de Servicios Científico-Técnicos (USCT) del ICMM-CSIC y pueden contactarse a través del correo electrónico @email. 

Jueves, Octubre 29, 2026 - 10:31