Patents

2018

Método dinamico de microscopia de fuerzas y microscopio para adquirir de forma simultanea imágenes de topografia y mapas de fuerza.
R. Garcia y C.A. Amo, P201830497; 23 mayo de 2018.

2016

Método multimodal para cuantificar la masa y distribución de masas de un objeto extendido en tiempo real: Applicación a células vivas.
C. R. Guerrero Rodriguez, Pablo David García López, Ricardo García García. P201630370; 30 marzo de 2016

2013

Metodo bimodal para cuantificar propiedades no topográficas en microscopia de fuerzas.
Elena T. Herruzo y Ricardo Garcia, Oficina Española de Patentes, P201330281, 28 de Febrero de 2013

2009
•Ultrafast and ultrasensitive novel photodetectors.
J.Y. Kim, R.V. Martínez, F.Stellaci, J. Martínez, R. García, Patent. No. US 12/715,783. Patent shared between CSIC and MIT researchers.

•Método de fabricación de distribuciones de nanohilos y nanotransistores de silicio.
R. Garcia, J. Martinez, P200931257.

2008
Método para activar dióxido de carbono, metano y otros gases de efecto invernadero mediante la aplicación de los campos eléctricos generados en un microscopio de fuerzas.
R. Garcia, F. Zerbetto. P200800312.

2006

Método de utilización de un microscopio de fuerzas atómicas y microscopio II.
Ricardo García, J.R. Lozano, S. Patil y N.F. Martinez, PCT/ES2006/070096 (Patent No: US 7,958,563 B2). Licensed to Asylum Research (USA).

2005
Método de utilización de un microscopio de fuerzas atómicas y microscopio.
Ricardo García y Tomás R. Rodríguez, 24 de Junio de 2005, P200501555. PCT/ES2006/070016 (Patent No: US pat. 7,921,466 B2). Licensed to Asylum Research (USA)

2004
Control a escala nanométrica de la distribución espacial, forma y tamaño de las películas delgadas de moléculas orgánicas conjugadas mediante la fabricación de nano-estructuras de óxido de silicio.
Ricardo García and Fabio Biscarini, PCT/ES2004/070013. Licenciada a Scriba Nanotec (Italia).

2003
Procedimiento su larga area per la ossidazione locale del silicio e/o altri materiali mediante stampaggio su scale micro e nanometriche.
M. Cavallini, P, Mei, F, Biscarini and R. García, BO2003A000614 (Italia). Licenciada a Scriba Nanotec (Italia).

2002
Modo de control de la respuesta dinámica de un microscopio de fuerzas basado en el seguimiento continuo de la señal de oscilación.
Ricardo García y Tomás R. Rodríguez, 3 Mayo 2002; No:200201022PCT/ES03/00191.