• Resolución:
  • Alto vacío: 1.0 nm @15 kV, 1.8 nm @1 kV con el detector TLD
  • Bajo Vacío: 1.5 @10 kV, 1.8 nm @3 kV con el detector Helix
  
• Rango de voltaje de aceleración continuo entre 200 y 30.000 V
  
• Detector de electrones secundarios E-T
  
• Detector de electrones secundarios a través de las lentes
  
• Detector de electrones secundarios de bajo vacío
  
• Detector de electrones retrodispersados a través de las lentes
  
• Platina eucéntrica con los 4 ejes motorizados, XlY = SOmm/SOmm
  
• Cámara de muestras de 284 mm.
  
• Cámara infra-roja de inspección estándar
  
  
  
• Detector Helix de secundarios de alta resolución para bajo vacío
  Solución única para la detección de electrones secundarios con la lente de
  inmersión en modo Bajo Vacío. Con este detector, que se monta debajo de la
  lente final, es posible realizar imágenes de ultra alta resolución de muestras no
  conductoras o que se contaminan con rapidez en modo Bajo Vacío. Debido a su
  diámetro interno, los aumentos mínimos están limitados a 500x.
  
• Pre -amplificador de dos canales para detector de estado sólido
  Para los todos los detectores de electrones retrodíspersados de estado sólido, tal y como el de bajo potencial o el detector STEM de dos segmentos. El diseño del preamplificador permite imagen a velocidad TV.
  
• Detector de electrones retrodispersados de Estado Sólido optimizado para Bajo Vacío
  Este detector es similar al detector de electrones retrodispersados estándar, pero incorpora un cono adicional con una apertura final de 500 micras, que permite extender el camino del haz en alto vacío. Gracias a esta tecnología se reducen dramáticamente los rayos-X espurios, por lo que es recomendable cuando se quiere realizar análisis cuantitativo en bajo vacío.
  
• Detector de electrones retrodispersados de Estado Sólido para Ultra Alta Resolución
  Este detector se instala bajo la lente final utilizando un acoplamiento en bayoneta. El detector es sensible a los bajos potenciales y es un complemento al detector de retrodispersados a través de las lentes. Debido a su diámetro interno, los aumentos mínimos están límitados a 40x.
  
• Sistema de Microanálisis por Energías Dispersadas de Rayos-X INCA 250.
  Con detector SIN nitrógeno líquido.
  Resolución mejor 138 eV para la detección de elementos ligeros a partir del B. Procesador microanalítico. pe, sistema operativo Windows. Sofware Autocolumn para el control de los parámetros de la columna del microscopio Los "Navigators": Analyser, Mapping y Point & Identification.

Contacto: Edurardo Ruiz-Hitzky, eduardo@icmm.csic.es