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CSIC logo Curso de especialización del CSIC

Técnicas de Microscopía en Ciencia de Materiales:
Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM) y Micro-Raman

Directora: Pilar Herrero Fernández
Subdirector: Ángel R. Landa Cánovas
Profesores: Pilar Herrero Fernández
Ángel R. Landa Cánovas
Fernando Agulló-Rueda
Jorge Hernández-Velasco
José Pérez Rigueiro (Universidad Politécnica de Madrid)
Requisitos: Licenciatura o ingeniería
Importe: 300 €
Lugar: Sala de Seminarios, Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM-CSIC).
Formulario de inscripción: pdf, Open Document Format (.odt), MS Word (.doc)
Instrucciones de pago: Los alumnos sin beca deben realizar una transferencia de 300 € al Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM-CSIC).
Número de cuenta destino: 0049 5662 44 2110174727
Entidad: BSCH
Concepto: Curso Microscopía TEM y Raman.
Ordenante: Nombre del alumno

Resumen del contenido y objetivos del curso

En este curso se pretende dar una visión amplia de las posibilidades que la Microscopía Electrónica de transmisión (TEM, HRTEM, difracción de electrones) y espectroscopías asociadas XEDS, EELS) junto con Micro-espectroscopía Raman ofrecen para el estudio de materiales. Se abordará por tanto el estudio de la microestructura de materiales diversos (óxidos, polímeros, láminas delgadas, cerámicas, biomateriales, nanotubos, etc.) desde aspectos tales como: morfología, tamaño de partícula, estructura cristalina, análisis elemental, análisis de la superficie, composición química, tipos de enlace, tensión mecánica, grado de desorden, etc...

Programa

Electrones versus luz. Interacción de electrones y fotones con la materia. I) Microscopía electrónica de transmisión (TEM). Introducción: Tipos de microscopios electrónicos. Diseño básico. Obtención de un haz de electrones. Dispersión elástica. Dispersión inelástica. Efectos secundarios. Difracción: aspectos comparativos de técnicas difractométricas (rayos-X, neutrones, electrones). Difracción de electrones: Tipos de diagramas de difracción. Microdifracción. Difracción de haz convergente. Interpretación de diagramas de difracción. Obtención de imágenes: Mecanismos de contraste. Concepto de alta resolución. Interpretación de imágenes. Métodos para la interpretación de imágenes. Técnicas asociadas: X-EDS, EFTEM, EELS. Preparación de muestras: Materiales homogéneos. Materiales inhomogéneos: secciones transversales. Ejemplos prácticos en diferentes materiales. Bibliografía. II) Microscopía Raman. Introducción: Esparcimiento de la luz. Efecto Raman. Espectroscopía Raman: Instrumentación. Ejemplos prácticos en diferentes materiales. Interpretación. Microscopía Raman: Resolución espacial. Técnicas de campo cercano. Aplicaciones. Bibliografía.

Fechas y horarios de celebración (2011)

Días Horas
Martes 22 - jueves 24 de marzo 17:00-18:30
Lunes 28 - jueves 31 de marzo 17:00-18:30
Viernes 1 de abril 15:30-17:00
Lunes 4 - martes 5 de abril 17:00-19:30
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Este curso además es una asignatura del Programa Oficial de Posgrado en Materiales Avanzados y Nanotecnologías ofertado por el Departamento de Física Aplicada de la Universidad Autónoma de Madrid (UAM), en colaboración con el Departamento de Biología Molecular de la misma universidad y el Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM-CSIC).
NanoCarma research group - Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) - CSIC - Cantoblanco - 28049 Madrid (Spain)