–     System for scanning probe microscopy applications and method for obtaining said system: Inventors: Y. Huttel, L. Martínez Orellana. Patent nº: EP18382665.0. 14/09/2018. CSIC.

–     Device and process for the stable manufacture of nanoclusters over time. Inventores: Inventors: Y. Huttel, L. Martínez Orellana, Iván Fernández Martínez. Patent nº: EP18382577.7. 31/07/2018. CSIC, Nano4Energy.

–     Dispositivo y método para limpiar superficies con haz de gases en vacío y ultra alto vacío. Inventores: E. L Román G, L. Martínez Orellana, Y. Huttel. Patente nº: PCT/ES2013/070486. Fecha de Prioridad: 8 de Julio  de 2013. Entidad titular: CSIC.

–       Dispositivo y procedimiento de fabricación de nanopartículas. Inventores: Elisa Román, Lidia Martínez, Medrcedes Díaz, Yves Huttel. Patent nº: PCT/ES2011/070032. Entidad titular: CSIC. Licenciada a Oxford Applied Research Ltd.

–       Modificación de puntas de microscopía de fuerzas atómicas mediante depósito de nanopartículas con una fuente de agregados. Inventores: Elisa Román, Lidia Martínez, Medrcedes Díaz, Yves Huttel. Patent nº: PCT/ES2011/070319. Entidad titular: CSIC. Licenciada a Next-Tip S.L.

–       Procedimiento y dispositivo para determinar el contenido de gases y volátiles en materiales sólidos o recubrimientos de superficie. Inventores: E. L Román G, J. L de Segovia T, R. Nevshupa, I. Menshikov and P. Konovalov. Patente nº: ES 2 320 513. Fecha de Prioridad: 23 de Febrero de 2007 Licenciada: 15 de Febrero de 2010. Entidad titular: CSIC.