AFM (Atomic Force Microscope)

El microscopio atómico de fuerzas (AFM) permite la obtención de imágenes tridimensionales de la superficie de muestras tanto conductoras como aislantes sin ninguna preparación especial de las muestras. El equipo del que disponemos (Figura 1) es de la casa Digital Instruments, y es el modelo Nanoscope IIIa, capaz de operar en el modo de contacto y el de contacto intermitente ("tapping"). Lleva acoplado un microscopio óptico que permite la visualización del conjunto punta-muestra para así poder situar la punta sobre una zona determinada de la muestra. De esta forma se vence, en cierto modo, una de las principales limitaciones de este tipo de microscopios, que es su carácter local o "ciego", es decir, la imposibilidad de efectuar barridos muy grandes de la superficie. El software del equipo permite realizar el análisis cuantitativo de las imágenes obtenidas. El microscopio puede trabajar en los siguientes modos:

Responsable: Dr. L. Vázquez