Las espectroscopías de fotoelectrones (XPS) y electrones Auger (AES) son insustituibles para el análisis cuantitativo no destructivo de superficies de materiales y permiten obtener información sobre la composición, estado químico, y estructura electrónica. En muchos casos se puede obtener información estructural a corto alcance. Son técnicas sensibles únicamente a las primeras capas atómicas de la superficie. Combinadas con la erosión monocapa a monocapa por pulverización catódica (sputtering) permiten obtener perfiles de concentración de recubrimiento finos.
La realización de prácticas incluye el experimento completo con uso del instrumento (espectrómetro) y análisis de los resultados. Los participantes en el curso también podrán analizar muestras de su interés.

Profesores
Dra. Isabel Montero (Profesora de Investigación, ICMM-CSIC)
Dra. Mª. Eugenia Dávila (Cientifica Titular, ICMM-CSIC)
Dr. Luis Estella (Catedrático, UAM)

 Programa

La realización de este curso se reconoce para la obtención de créditos externos en diversos programas de Máster.

Plazas limitadas. Inscripción gratuita
Para inscribirse es necesario rellenar antes del día 31 de enero de 2012 el siguiente

• formulario de inscripción