Primer Apellido: Segundo Apellido:
Nombre: DNI/Pasaporte:
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Experiencia en radiación sincrotrón:
Sincrotrones visitados:
Técnicas utilizadas(*):
(*) Elegir los códigos de la lista siguiente; para seleccionar múltiples campos pulsar la tecla Ctrl
SXD (Difracción de superficies) PWXD (Difracción de polvo en ángulos) EDD (Difracción de energía dispersiva) PMXD (Difracción de macromoléculas) SCXD (Difracción de monocristal) MXD (Microdifracción) RXD (Difracción resonante, anómala) SAXS (Difracción de ángulos bajos) WAXS (Difracción de ángulo grandes) GISAXS (Difracción de ángulos bajos a ángulos rasantes) XE (Emisión de rayos-X) XDS (Dispersión difusa de rayos-X) EXAFS (Absorción de rayos-X) XANES (Absorción de rayos-X en el borde) SEXAFS (Absorción de rayos-X de superficie) XPS (Espectroscopía de fotoelectrones de rayos-X) UPS (Espectroscopía de fotoelectrones de ultravioleta) ARPES (Fotoemisión resuelta en ángulo) ARUPS (Fotoemisión resuelta en ángulo en ultravioleta) AES (Espectroscopía Auger) FRX (Fluorescencia de rayos-X) MFRX (Microfluorescencia de rayos-X) RESPES (Fotoemisión angular resonante) XMCD (Dicroísmo Circular Magnético) XMLD (Dicroísmo lineal Magnético) XMRS (Dispersión Resonante Magnética) XSW (Ondas estacionarias) LEED (Difracción de electrones de baja energía) PED (Difracción de fotoelectrones) INS (Dispersión de rayos-X nuclear inelástica) RIXS (Dispersión de rayos-X inelástica resonante) VUVS (Espectroscopía VIS-UV) XTP (Topografía de rayos-X) XTM (Tomografía de rayos-X) XI (Interferometria de rayos-X) XR (Reflectometría con rayos-X) XL (Litografía de rayos-X) XM (Microscopía de rayos-X) PEEM (Microscopía de emisión de fotoelectrones) TM (Medicina-terapia) DM (Medicina-diagnóstico) AP (Física Aceleradores) ISR (Instrumentación) HEXG (Radiación gamma y R-X de muy alta energía
Otras técnicas no especificadas: