Course on Microscopy in Materiales Science: TEM and Raman

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Técnicas de Microscopía en Ciencia de Materiales: Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM) y Micro-Raman

Resumen del contenido y objetivos del curso

En este curso se da una visión amplia y actualizada del estado del arte en el campo de las  microscopias avanzadas aplicadas al estudio de materiales y nanociencia. En particular se tratarán la Microscopía Electrónica de transmisión (TEM) junto con la Micro-espectroscopía Raman. La microscopía electrónica de transmisión, especialmente de alta resolución (HRTEM) proporciona información sobre la estructura de los materiales con una resolución espacial de 0,15-0,3 nm. Para ello se utilizan imágenes en el espacio real junto con diagramas de difracción de electrones, que dan información sobre morfología, tamaño de partícula, orientación, grado de cristalinidad y perfiles de distribución de tamaño. Además, se puede obtener información adicional mediante técnicas asociadas como la espectroscopía de dispersión de energía de rayos X (X-EDS) y la espectroscopía de pérdida de energía de electrones (EELS). Los espectros obtenidos proporcionan información química y electrónica de los materiales estudiados. La espectroscopia Raman es una técnica analítica no destructiva que proporciona información sobre el tipo de enlace químico y la microestructura de los materiales. Asimismo es posible obtener la orientación, el estado de desorden, las tensiones residuales, la aparición de nuevas fases cristalográficas, etc. La resolución espacial es inferior a un micrómetro.

Programa

Temario
Introducción a la microscopía en Ciencia y Tecnología de Materiales:
I) Microscopía electrónica de transmisión (TEM)
-Microscopía óptica y electrónica. Electrones versus luz.
-Tipos de microscopios electrónicos.
-Obtención de un haz de electrones. Dispersión elástica. Dispersión inelástica.
-Difracción de electrones.Interpretación.
-Obtención de imágenes: Mecanismos de contraste. Concepto de alta resolución. -Interpretación de imágenes. Métodos
para la interpretación de imágenes.
-Técnicas de difracción: aspectos comparativos (rayos-X, neutrones, electrones)
-Técnicas asociadas: X-EDS, EFTEM, EELS.
-Preparación de muestras: Materiales homogéneos. Materiales inhomogéneos: secciones planas y secciones
transversales.
-Ejemplos prácticos en diferentes materiales.
-Bibliografía

II) Microscopía Raman
-Introducción: Esparcimiento de la luz. Efecto Raman.
-Espectroscopía Raman: Instrumentación
-Ejemplos prácticos en diferentes materiales. Interpretación
-Microscopía Raman: Resolución espacial. Técnicas de campo cercano
-Aplicaciones a distintos campos
-Bibliografía

Directora: Pilar Herrero Fernández
Subdirector: Ángel R. Landa Cánovas
Profesores: Pilar Herrero Fernández
Ángel R. Landa Cánovas
Fernando Agulló-Rueda
Jorge Hernández-Velasco
José Pérez Rigueiro (UPM)
Javier García García (UCM) (invitado)
Requisitos: Licenciatura o ingeniería
Idioma del curso: Español
Importe: 200 €
Formulario de inscripción: MS Word
Open/Libre Office
PDF
Instrucciones de pago: Los alumnos deben realizar una transferencia de 200 € al Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM-CSIC).
Número de cuenta destino: 0049 5662 44 2110174727
Entidad: Banco Santander
Concepto: Curso Microscopía TEM y Raman.
Ordenante: Nombre del alumno
Duración: 20 horas.
Horario: 15:00–19:00 horas.
Fechas: 2–6 de junio de 2014
Lugar: Sala de Seminarios, Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM-CSIC).

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Técnicas de Microscopía en Ciencia de Materiales: Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM) y Micro-Raman

Resumen del contenido y objetivos del curso

En este curso se da una visión amplia y actualizada del estado del arte en el campo de las microscopias avanzadas aplicadas al estudio de materiales y nanociencia. En particular se tratarán la Microscopía Electrónica de transmisión (TEM) junto con la Micro-espectroscopía Raman. La microscopía electrónica de transmisión, especialmente de alta resolución (HRTEM) proporciona información sobre la estructura de los materiales con una resolución espacial de 0,15-0,3 nm. Para ello se utilizan imágenes en el espacio real junto con diagramas de difracción de electrones, que dan información sobre morfología, tamaño de partícula, orientación, grado de cristalinidad y perfiles de distribución de tamaño. Además, se puede obtener información adicional mediante técnicas asociadas como la espectroscopía de dispersión de energía de rayos X (X-EDS) y la espectroscopía de pérdida de energía de electrones (EELS). Los espectros obtenidos proporcionan información química y electrónica de los materiales estudiados. La espectroscopia Raman es una técnica analítica no destructiva que proporciona información sobre el tipo de enlace químico y la microestructura de los materiales. Asimismo es posible obtener la orientación, el estado de desorden, las tensiones residuales, la aparición de nuevas fases cristalográficas, etc. La resolución espacial es inferior a un micrómetro.

Programa

Temario
Introducción a la microscopía en Ciencia y Tecnología de Materiales:
I) Microscopía electrónica de transmisión (TEM)
-Microscopía óptica y electrónica. Electrones versus luz.
-Tipos de microscopios electrónicos.
-Obtención de un haz de electrones. Dispersión elástica. Dispersión inelástica.
-Difracción de electrones.Interpretación.
-Obtención de imágenes: Mecanismos de contraste. Concepto de alta resolución. -Interpretación de imágenes. Métodos
para la interpretación de imágenes.
-Técnicas de difracción: aspectos comparativos (rayos-X, neutrones, electrones)
-Técnicas asociadas: X-EDS, EFTEM, EELS.
-Preparación de muestras: Materiales homogéneos. Materiales inhomogéneos: secciones planas y secciones
transversales.
-Ejemplos prácticos en diferentes materiales.
-Bibliografía

II) Microscopía Raman
-Introducción: Esparcimiento de la luz. Efecto Raman.
-Espectroscopía Raman: Instrumentación
-Ejemplos prácticos en diferentes materiales. Interpretación
-Microscopía Raman: Resolución espacial. Técnicas de campo cercano
-Aplicaciones a distintos campos
-Bibliografía

Directora: Pilar Herrero Fernández
Subdirector: Ángel R. Landa Cánovas
Profesores: Pilar Herrero Fernández
Ángel R. Landa Cánovas
Fernando Agulló-Rueda
Jorge Hernández-Velasco
José Pérez Rigueiro (UPM)
Javier García García (UCM) (invitado)
Requisitos: Licenciatura o ingeniería
Idioma del curso: Español
Importe: 200 €
Formulario de inscripción: MS Word
Open/Libre Office
PDF
Instrucciones de pago: Los alumnos deben realizar una transferencia de 200 € al Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM-CSIC).
Número de cuenta destino: 0049 5662 44 2110174727
Entidad: Banco Santander
Concepto: Curso Microscopía TEM y Raman.
Ordenante: Nombre del alumno
Duración: 20 horas.
Horario: 15:00–19:00 horas.
Fechas: 2–6 de junio de 2014
Lugar: Sala de Seminarios, Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM-CSIC).

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